瑞士TESA一维测高仪TESA-HITE 400/700

简要描述：瑞士TESA一维测高仪TESA-HITE 400/700
是放置于平台上进行单轴测量的仪器，平面基准推荐花岗石平台。我们提供的TESA-μHITE测高仪是一种平台与测高仪结合在一起的多功能测量系统，主要用于在线或批量检测，特别是对于一些尺寸要求严格的工件在生产过程中的调试和抽样检测非常有效。

更新时间：2024-08-07
产地类别：国产
厂商性质：经销商
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详细介绍

品牌	TESA/瑞士	产地类别	进口
应用领域	综合

瑞士TESA一维测高仪TESA-HITE 400/700

00730084测高仪-SF500-500.jpg

瑞士TESA气浮式测高仪00730084 (2).jpg

00730084
TESA HITE 400测高仪
TESA Hite 400

00730085
TESA HITE 700测高仪
TESA Hite 700

瑞士TESA一维测高仪TESA-HITE 400/700特性：
专为车间设计配置的测高仪，集TESA 25年的研发经验，融入新的精密机械结构，*的性价比。
1、测量范围
2、电子装置具有IP65的防护等级以防止液体和灰尘的侵入
3、内置气浮，已固定的面板
4、采用TESA的技术在测量直径时自动寻找顶点
5、可进行平行度和垂直度的测量
6、TESA的光电测量系统
7、与MIRCO-HITE兼容的附件包括测杆及夹持块
8、每台测高仪带有SCS校准证书

技术参数：

技术规格	TESA-HITE 400	TESA HITE 700
订货号	00730084	00730085
量程	415mm/16in	715mm/28in
应用范围使用测头座00760143	570mm/22in	870mm/34in
应用范围使用测头座00760057	625mm/24in	925mm/36in
应用范围使用测头座S07001622	795mm/31in	1095mm/43in
允许误差：	（2.5+4L） μm（Lin m）/（0.0001+0.000004L）（Lin in）
重复性：平面内（2S）	＜2μm/＜0.0001 in	＜2μm/＜0.0001in
孔内（2S）	＜3μm＜0.00015in	＜3μm＜0/00015in
*垂直度误差（正面）	10μm/＜0.0004in	15μm＜0.0006in
分辨率：	0.0001/0.001/0.01mm 0.00001/0.0001/0.001 in	0.0001/0.001/0.01mm 0.00001/0.0001/0.001 in
*移动速度	0.5m/s
测量力（声音信号）	1.5N±0.5N	1.5N±0.5N
一次充电工作时间	60h	60h
重量	27kg	32kg
气浮	√	√
电源	6v可充电电池	6v可充电电池
数据输出	RS-232	RS-232
防护等级	IP40,电子电板IP65	IP40,电子电板IP65
测头锁定	√	√
微调装置	√	√
储存温度范围内	-10C°到60 C°	-10C°到60 C°
操作温度范围	10 C°到40 C°	10 C°到40 C°

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