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尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计

简要描述：尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计
尼康 MF‑501+MFC‑200 为进口接触式高精度高度计，由 MF‑501测量测头与MFC‑200数显控制器组成，实现工件高度、段差、厚度精密测量。读数精度高，搭配大理石基座，测量基准稳定，多用于机械、电子、半导体、汽配行业质检与实验室尺寸检测。

更新时间：2026-08-28
产地类别：国产
厂商性质：经销商
访问量：18

Product Category

品牌	Nikon/日本尼康	产地类别	进口
应用领域	电子/电池,汽车及零部件,综合,半导体,机械设备

尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计

尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计

一、产品概述

尼康MF‑501+MFC‑200是日本Nikon进口接触式精密高度测量系统，由MF‑501测量测头与MFC‑200数显显示器组合而成，搭配大理石/陶瓷测量基座，主要完成工件高度、段差、台阶、厚度、间隙等几何尺寸高精度检测，广泛用于质检实验室与生产检测工位，是工业几何量计量常用仪器。

二、核心技术参数

MF‑501 测头	测量量程	0‑50mm
	最小读数值	0.1μm；可切换 0.5μm /1μm
	测量速度	500mm/sec 以下
	测定力	下方向 115‑165gf，横向约 65‑125gf
	设备重量	约 460g
MFC‑200 数显控制器	显示方式	LED 数字显示
MFC‑200 数显控制器	具备置零复位、超差提示功能，配备 RS‑232C 数据输出接口，可外接打印机、电脑采集测量数据
可适配多种测针：标准型、直针型、塑胶球型、偏心球型、平底型、滚动轴承型测针，满足不同工件测量需求

三、设备结构组成

MF‑501测量测头	高精度光栅测头，接触式采集位移数据，实现微米级位移采集
MFC‑200数显显示器	数值显示面板，完成读数、清零、单位切换，支持数据对外输出
测量基座	陶瓷/大理石平台，提供高平面度基准，减少测量基准带来的误差
升降支架组件	可手动调节测头高度，适配不同被测样品
可选配件	各类形状测针、数据通讯线缆、外置打印机

四、主要功能特点

1.测量精度高，最小分辨率可达 0.1μm，可切换多档精度，兼顾高精度与常规测量场景；

2.接触式测量，测力稳定，适合薄片、小零件、台阶件的高差、厚度检测；

3.操作简便，一键置零复位，工位可快速完成样品比对测量；

4.数据输出能力，RS‑232通讯接口，可把测量数据导出，用于记录、统计、SPC 分析；

5.测针可更换，丰富探针选型，适配平面、曲面、微孔、薄壁件等多种被测工件；

6.搭配高刚性基准平台，抗形变，保障重复测量稳定性。

五、典型应用领域

1.机械加工：零部件台阶高度、段差、厚度尺寸检测；

2.电子/电池：电子元器件、电池组件、精密垫片高度测量；

3.半导体：半导体器件、芯片配件微小高差检测；

4.汽车零部件：精密汽配零件尺寸公差检验；

5.五金金属：金属加工件、冲压件、模具样品实验室质检。

尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计

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